大型恒溫恒濕房
滿足標準:GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗\第2部分：試驗方法試驗A：低溫\GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗\第2部分：試驗方法試驗B：高溫\GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗\GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗
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工作室尺寸:W2000×H2100×D3000mm
外外箱尺寸約:W2850×H2500×D3500mm 以實際尺寸為準
步入式恒溫恒濕試驗室是高低溫環(huán)境下，檢驗電子產品、材料、電工、儀器儀表的各種性能指針。電子產品為什么要做恒溫恒濕環(huán)境試驗? 隨著現代工業(yè)技術的迅速發(fā)展，電子電工產品的應用領域日益廣闊，所經受的環(huán)境條件也越來越復雜多樣。只有合理地規(guī)定產品的環(huán)境條件，正確的選擇產品的環(huán)境保護措施，才能保證產品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因此，對電子電工產品進行人工仿真環(huán)境試驗是保證其在生產、運輸、使用等各個環(huán)節(jié)中都安全可靠。出廠前對電子電工產品進行人工仿真環(huán)境試驗是保證質量所必不可少的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設備是否符合標準關系重大。
執(zhí)行標準與滿足:
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗
第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗
第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗
第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
